- 制造厂商：TI
- 类别封装：集成电路（IC） > 逻辑 > 专用逻辑器件，封装:24-SOIC
- 技术参数：IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
- SN74ABT8245DWR现货渠道商，TI（Texas Instruments，德州仪器）代理优势货源
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SN74ABT8245DWR 技术参数详情：
- 型号:SN74ABT8245DWR
- 品牌:Texas Instruments (TI,德州仪器)
- 封装:24-SOIC
- 类目:集成电路（IC） > 逻辑 > 专用逻辑器件
- 描述:IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
- 包装:卷带（TR）
- 产品状态:在售
- 逻辑类型:扫描测试设备，带总线收发器
- 供电电压:4.5V ~ 5.5V
- 位数:8
- 工作温度:-40°C ~ 85°C
- 等级:-
- 资质:-
- 安装类型:表面贴装型
- 封装/外壳:24-SOIC（0.295，7.50mm 宽）
- 供应商器件封装:24-SOIC
- SN74ABT8245DWR优势代理货源，国内专业的TI芯片采购服务平台。
