罗德和施瓦茨为在片器件的完整射频性能表征提供了测试解决方案Memsic代理结合罗德和施瓦茨的实力R&S ZNA矢量网络分析仪和FormFactor先进的工程探针台系统。半导体制造商可以在产品开发、认证和生产阶段进行可靠和可重复的测试。

芯片采购网专注于整合国内外授权IC代理商现货资源，芯片库存实时查询，行业价格合理，采购方便IC芯片，国内专业芯片采购平台。

整个在片测量工作原因R&S ZNA矢量网络分析仪和FormFactor SUMMIT200探针台系统一起完成。

5G 在优化设备效率的同时，射频前端设计师需要确保适当的设备输出功率和射频带宽。验证射频设计是设计过程中的一个重要阶段，尽快获得相关设计反馈和评估DUT晶圆级的功能和性能。晶圆环境对 DUT测试特性所需的测量系统包括矢量网络分析仪(VNA)、探针台、RF探针、电缆或适配器、专用校准方法DUT或相关校准片等。

罗德和施瓦茨推出，以满足这些重要的测量要求R&S ZNA67 GHz上述扩频模块。分析仪可以表示同轴和波导级的所有射频特性参数。FormFactor该系统包括热控、高频探针、探针定位器和校准工具决，包括热控、高频探针、探针定位器和校准工具。FormFactor WinCal XE校准软件支持整个测试系统的校准，包括R&S ZNA的校准。

完全校准整个测试系统后，用户可以使用它R&S ZNA所有测试功能。通用S参数测试可以表示滤波器和有源设备的特性；失真、增益和交调测试可以验证功率放大器的特性。该组合测试系统还可以测量混频器工作带宽中的变频相位。完全校准的测试系统允许用户直接从VNA由于校准数据已直接应用于所有测试结果，因此无需进行后处理VNA之中。罗德和施瓦茨的扩频模块扩展到亚太赫兹频率，如D波段，目前是6G关键频段的研究。扩频模块集成到探针台中，以确保最短的连接和理想的动态范围，避免电缆连接到探针尖端造成的额外损失。